無論是實驗室環(huán)境還是生產(chǎn)車間，都需要采用更的半導體測試方法。半導體測試是NI的戰(zhàn)略重點。我們正在擴展我們的軟件和PXI功能，以幫助芯片商應(yīng)對他們面臨的挑戰(zhàn)，這一點通過NI的PXISMU可以*體現(xiàn)出來。"由于其高吞吐量、高性價比和占地面積小，NI的半導體測試系統(tǒng)(STS)正在快速應(yīng)用到芯片生產(chǎn)中。全新的PXIe-4163SMU則進一步增強了這些功能，它能更高的直流通道密度，使多站點應(yīng)用具有更高的并行性，以及在生產(chǎn)中實驗室級別的測量質(zhì)量。LHR的ShoveIt手動安全工具可幫助工作人員在使用懸掛負載時避免夾點和其他與手相關(guān)的安全問題。
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